Semiconductor Parameter Analyzer

Messsystem zur elektrischen Charakterisierung von Halbleiterbauelementen / Semiconductor Parameter Analyzer

Beschaffung eines modularen Messsystems zur elektrischen Charakterisierung von Halbleiterbauelementen / Semiconductor Parameter Analyzer für den bestehenden und zukünftigen zentralen Reinraum der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät der Universität Siegen. Das Messystem dient in den universitären Forschungsschwerpunkten der Sensorik sowie der Materialwissenschaften als zentraler Reinraum-Gerätebestandteil zur elektrischen Charakterisierung neuartiger Sensoren, Materialien und Bauelementen aus verschiedensten Materialkombinationen. Es steht den universitären Forschungszentren, dem Zentrum für Sensorsysteme (ZESS), dem Center for Micro- and Nanochemistry and Engineering (Cµ), dem Center for Innovative Materials (Cm), dem DFG-geförderten Mikro- und Nanoanalytikzentrum MNaF und der biomedizinischen Sensorforschung, wie auch externen Kooperationspartnern zur Verfügung. Der Semiconductor Parameter Analyzer muss folgende Komponenten umfassen: - Haupt- / Steuermodul mit den zusätzlichen Systemerweiterungen: - 4 x High-Resolution I/V Source Measurement Unit (SMU) Modul - 4 x Waveform Generatorkanäle für ultra-schnelle IV (t) Messfähigkeit - 1 x CV-Messkartenmodul (inkl. LF-, HF, Quasistatisch-CV und RLC-Messfähigkeit) - Jeweils Messmodul inklusive Anschluss (Triax bevorzugt, sofern nicht anders definiert) und entsprechende 3m Kabelänge für jeden jeweiligen Messanschluss, jedoch exklusive entsprechender Prober - Mainframe inkl. Bildschirm, Eingabeperipherie und Bedienersoftware

Bekanntmachungs-ID: CXPNY56DG6D

Bekanntmachungsnummer: f2d5919a-8beb-4d96-a9d1-10ed38fca1a7