Next Gen Scanning Probe Microscope

Ziel der Vergabe ist die Beschaffung eines Next Gen Scanning Probe Microscope (Modell SPC-241007).

Der Auftrag kann nur von einem bestimmten Wirtschaftsteilnehmer ausgeführt werden, da aus technischen Gründen kein Wettbewerb vorhanden ist. Die Rasterkraftmikroskope am MPI-P sind derzeit in einer Core Facilities (CF) organisiert. Nach mehr als 10 Jahren intensiven Forschungsbetriebs beobachten wir einen deutlichen Verschleiß am vorhandenen Rasterkraftmikroskop, der zu langen Ausfallzeiten aufgrund aufwändiger Reparaturen führte. Des Weiteren ist aufgrund veralteter Elektronik die Auflösung begrenzt und neue Messmethoden können nicht eingesetzt werden. Daher können eine signifikante Anzahl an Projekten nicht mehr durchgeführt werden. Aufgrund des wissenschaftlichen Einsatzgebietes ergeben sich spezielle Anforderungen an das Rasterkraftmikroskop. Ziel der neuen Anschaffung ist es, ein möglichst vielseitiges Gerät mit nachgewiesener echter atomarer Auflösung und schnellen Abtastraten zu bekommen, die eine Zeilenfrequenz von 100 Hz bei einer Rasterweite von 5 µm erlaubt. Damit können dynamische Polymereigenschaften auf einer molekularen Skala an Luft und auch in flüssigen Umgebungsbedingungen untersucht werden. Bei der Neuanschaffung liegt zudem der Fokus auf der frequenzabhängigen nano-mechanischen und elektro-chemischen Charakterisierung bei Proben, die bis zu 20 cm Durchmesser haben können. Um die Untersuchungsmethode auch ungeübten Mitarbeitern zur Verfügung zu stellen, müssen Kraftsensoren automatisch und ohne Justage ausgewechselt werden. Diese Anforderungen können nur mit dem „next-generation Scanning Probe Microscope“, SPC-Special-Nano AFM, von Bruker France S.A.S. in vollem Umfang erfüllt werden.