Vergabekarte
AusschreibungNationalveröffentlicht

Rasterelektronenmikroskop

Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)Bund
Lage: Berlin (kreisfreie Stadt), Berlin

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Angebotsfrist
abgelaufen vor 361 Tagen
Geschätzter Wert
nicht veröffentlicht
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Verfahren
Öffentliche Ausschreibung
Lose
1
ein Auftrag
Offizielle BekanntmachungVergabeunterlagenÄhnliche per E-Mail

Beschreibung

1 Rasterelektronenmikroskop

Eckdaten

Vergabestelle
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Unter den Eichen 87, 12205 Berlin
Art des Auftraggebers
Sonstige obere, mittlere oder untere BundesbehördeBundesauftraggeber
Erfüllungsort
BerlinKarte und Region: Zuordnung nach Sitz der Vergabestelle
Verfahrensart
Öffentliche Ausschreibung
Auftragsart
nicht angegeben
Vergaberegime
Nationale Vergabe (unterhalb der EU-Schwellenwerte)
Rechtsgrundlage
Unterschwellenvergabeordnung (UVgO)
Art der Bekanntmachung
Auftrags- oder Konzessionsbekanntmachung – Standardregelung
Geschätzter Wert
nicht veröffentlicht
Frist für Bieterfragen
· abgelaufen
Für KMU geeignet
nicht angegeben
Geschäftszeichen
47/25
Veröffentlicht
abgesendet Di., 11.11.2025, 22:42 Uhr MEZ
Bekanntmachung
5f2ff14b-ef50-41e1-8db7-3e8bfd83a75aVersion 1
Verfahrens-ID
2b8227dd-5913-4798-962a-6dc7dcb491d4
Datenformat
Vereinfachte Bekanntmachung (Altformat, ohne Zuschlagsdaten)eforms-sdk-0.1

Kategorien (CPV)

38511100Rasterelektronenmikroskope38511000Elektronenmikroskope

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– kein Wert veröffentlicht

Quelle Bekanntmachungsservice (oeffentlichevergabe.de) (CC0) · Bekanntmachung 5f2ff14b-ef50-41e1-8db7-3e8bfd83a75a, Version 1 · bei uns aktualisiert · Stand