Lieferung, Aufstellung und Inbetriebnahme eines in-situ Nanoindenter für REM
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Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2)
| Los | Gegenstand | Frist | Laufzeit |
|---|---|---|---|
| 1 | Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2)RasterelektronenmikroskopeBeschreibung und weitere AngabenLos 1: Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2)
| abgelaufen vor 535 Tagen | 01.06.2026 – 30.06.2026 |
| 2 | high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1)RasterelektronenmikroskopeBeschreibung und weitere AngabenLos 2: high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1)
| abgelaufen vor 535 Tagen | 01.02.2026 – 28.02.2026 |
| 3 | high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2)RasterelektronenmikroskopeBeschreibung und weitere AngabenLos 3: high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2)
| abgelaufen vor 535 Tagen | 01.03.2026 – 31.03.2026 |
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Angebotsfrist: noch 11 TageGeschätzter Wert: kein Wert veröffentlicht
Angebotsfrist: noch 14 TageGeschätzter Wert: 1 Mio. €
Quelle Bekanntmachungsservice (oeffentlichevergabe.de) (CC0) · Bekanntmachung e41198fb-75f7-49a8-99e2-903867943445, Version 1 · bei uns aktualisiert · Stand