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AusschreibungEU-weitLieferleistungenveröffentlicht

Messsystem zur Charakterisierung von Hochfrequenz Front-End Modulen - PR345905-2590-W

Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12Öff. UnternehmenBerlin
Lage: Berlin (kreisfreie Stadt), Berlin

Änderungsbekanntmachung – ersetzt Fassung vom 13.06.2024.

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Angebotsfrist
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Geschätzter Wert
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Verfahren
Offenes Verfahren
Lose
2
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Änderungen dieser Fassung

die Fristen ( Angebotsabfagefrist und Bindefrist) wurde verlängert

Beschreibung

Messsystem zur Charakterisierung von Hochfrequenz Front-End Modulen

Lose2

LosGegenstandFristLaufzeit
1Netzwerkanalysator und SignalgeneratorMessgeräte und Steuer- und Überwachungsanlagen
Beschreibung und weitere Angaben

Das Netzwerkanalysator-Messsystem soll die vektorielle Messung frequenzabhängiger
S-Parameter ermöglichen. Das Gerät soll aus einem VNA-Grundgerät
für den Frequenzbereich bis 67 GHz und einem Erweiterungsmodul für den
Frequenzbereich 110-170 GHz bestehen, dass durch das VNA-Grundgerät gesteuert
und mit den nötigen Hochfrequenzsignalen zur Signalerzeugung versorgt
wird. Das Netzwerkanalysator-Messsystem soll mit dem Waferprober aus
Los 2 genutzt werden.
Der Signalgenerator soll zwei Hochfrequenzsignale im Frequenzbereich bis
30 GHz erzeugen können. Es sollen verschiedene Modulationsverfahren für
die Signal zur Verfügung stegen.

Optionen
15. Die Bedienelemente sollen als berührungssensitive Anzeigen (Touch-screen) realisiert sein 16. Das VNA-Grundgerät soll eine Spektrumanalysator-Funktion zur Mes-sung von Sig-nalen im Frequenzbereich bis 67GHz verfügen 25. Elektronisches Kalibriereinheit passend zu VNA-Grundgerät, 10MHz-67GHz, 2 Tore 26. Mechanisches Kalibrier-Set für den Frequenzbereich 110-170GHz mit Hohlleiteran-schlüssen zum Anschluss an das Messsystem mit einstellba-rer Terminierung (engl. Sli-ding Match) 27. Halterung zum Einbau des VNA-Grundgeräts in ein 19 Zoll Rack
Für KMU geeignet
nein
abgelaufen vor 858 Tagen3 Monate
2WaferproberOberflächen-Messgeräte
Beschreibung und weitere Angaben

Waferprober

Optionen
4. Zusätzlicher Waferchuck zur Aufnahme eines Kalibriersubstrats 9. Monitor zur Anzeige der Kamerabilder zur Befestigung am Waferprober 12. Vibrationsmindernder Maschinentisch zur Aufstellung des Waferprobers 13. Messgerät zur Anzeige der relativen Höhe des Waferchucks 14. Aufnahme für Messinstrumente zur Montage am Waferprober 15. Halterung zur Kontaktierung von Leiterplatten auf dem Waferprober 16. Vakuumpumpe zur Versorgung des Waferprobers 17. Kompressor zur Erzeugung von Druckluft für den Waferprober 27. Je eine Hochfrequenz-Messspitze, Frequenzbereich bis 67GHz, GS- bzw. SG-Konfiguration,Pitch 200um, abgewinkelter Konnektor 28. 2 x Hochfrequenz-Messspitzen, Frequenzbereich bis 67GHz, GSG-Konfiguration, Pitch 100um, abgewinkelter Konnektor 29. 2 x Hochfrequenz-Messspitzen, Frequenzbereich bis 67GHz, GSG-Konfiguration, Pitch 200um, abgewinkelter Konnektor 30. 2 x Hochfrequenz-Messspitzen, Frequenzbereich 110-170GHz, GSG-Konfiguration, Pitch 150um 31. 2 x Hochfrequenz-Messspitzen, Frequenzbereich 110-170GHz, GSG-Konfiguration, Pitch 50um 32. Passende Kalibriersubstrate für die Messspitzen aus den Positionen 27-31
Für KMU geeignet
nein
abgelaufen vor 858 Tagen3 Monate

Eckdaten

Vergabestelle
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
Hansastraße 27c, 80686 München
Art des Auftraggebers
Öffentliches Unternehmen
Erfüllungsort
BerlinNUTS DE300
Verfahrensart
Offenes Verfahren
Auftragsart
Lieferleistungen
Vergaberegime
EU-weite Vergabe (oberhalb der EU-Schwellenwerte)
Rechtsgrundlage
Richtlinie 2014/24/EU (öffentliche Auftragsvergabe)VgV
Art der Bekanntmachung
Auftrags- oder Konzessionsbekanntmachung – Standardregelung
Geschätzter Wert
nicht veröffentlicht
Für KMU geeignet
nein
Geschäftszeichen
PR345905-2590-W
Veröffentlicht
abgesendet Mi., 26.06.2024, 16:53 Uhr MESZ
Bekanntmachung
b2005bcd-ce9b-4b6d-b088-721b74126dd4Version 1
Verfahrens-ID
07dc1e9e-3b03-4ec0-8159-e591aeb9a1c4
Nachprüfungsstelle
Vergabekammern des Bundes, Bonnzuständig für Rügen und Nachprüfungsanträge
Datenformat
eForms-Bekanntmachungeforms-de-1.1

Kategorien (CPV)

31682210Messgeräte und Steuer- und Überwachungsanlagen38126000Oberflächen-Messgeräte

Verlauf des Verfahrens

  1. Ausschreibungansehen
  2. AusschreibungansehenÄnderung
  3. AusschreibungansehenÄnderung
  4. Ausschreibungdiese SeiteÄnderung
  5. Vergabeansehen

Versionen dieser Bekanntmachung

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Quelle Bekanntmachungsservice (oeffentlichevergabe.de) (CC0) · Bekanntmachung b2005bcd-ce9b-4b6d-b088-721b74126dd4, Version 1 · bei uns aktualisiert · Stand